Elipsometr eksperymentalny LCP-25

Krótki opis:

Ręczny polarymetr eliptyczny wykorzystuje metodę ekstynkcji do pomiaru grubości i współczynnika załamania światła warstwy oraz ręcznie reguluje odchylenie i kąt odchylenia w procesie testowym. Elipsometria jest szeroko stosowana w pomiarach cienkich warstw dielektrycznych na podłożu stałym. Metoda pomiaru grubości warstwy pozwala na uzyskanie najcieńszej i najwyższej precyzji.

Wyślij do nas e-mail

Szczegóły produktu

Tagi produktów

Specyfikacje

Opis	Specyfikacje
Zakres pomiaru grubości	1 nm ~ 300 nm
Zakres kąta padania	30º ~ 90º, Błąd ≤ 0,1º
Kąt przecięcia polaryzatora i analizatora	0º ~ 180º
Skala kątowa dysku	2º na skalę
Min. odczyt noniusza	0,05º
Wysokość środka optycznego	152 mm
Średnica etapu roboczego	Φ 50 mm
Wymiary całkowite	730x230x290 mm
Waga	Około 20 kg

Lista części

Opis	Ilość
Jednostka elipsometryczna	1
Laser He-Ne	1
Wzmacniacz fotoelektryczny	1
Fotokomórka	1
Film krzemionkowy na podłożu krzemowym	1
Płyta CD z oprogramowaniem analitycznym	1
Instrukcja obsługi	1